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離子污染測(cè)試儀-摯錦科技
離子污染測(cè)試儀
離子污染測(cè)試儀

離子污染測(cè)試, PCB污染測(cè)試

離子污染測(cè)試儀

離子污染測(cè)試儀

有效查找PCB故障,完善和監(jiān)測(cè)焊接/清潔工藝。

為什麼選擇離子污染測(cè)試儀

PCB如果表面受到導(dǎo)電物料污染,會(huì)對(duì)生產(chǎn)PCB產(chǎn)生較多問題和影響,特別是受潮后,會(huì)導(dǎo)致軌道和焊盤之間的阻力降低,並可能導(dǎo)致金屬腐蝕。

離子污染測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

離子污染水準(zhǔn)根據(jù)清潔PCB的溶液的離子電導(dǎo)率計(jì)算得出是整個(gè)表面的平均值。
如今對(duì)於無論是空板還是裝配板的製造廠商,離子污染測(cè)試已經(jīng)作為一項(xiàng)必不可少的生產(chǎn)常規(guī)程式,為確保正常生產(chǎn)被廣泛使用。

IPC-TM-650 2.3.25

IPC-TM-650 2.3.25:溶劑析取電阻率(ROSE)測(cè)試方法。 ROSE測(cè)試方法用於過程式控制,檢測(cè)離子污染。 IPC限值設(shè)定為1.56 μg/NaCl/cm.sq。 NCT由離子測(cè)試裝置組成,無法識(shí)別特殊離子。 過程是將PCB / PCBA上存在的離子吸入測(cè)試溶液中,報(bào)告結(jié)果顯示為每平方英寸/釐米的PCB上的總離子。

動(dòng)靜態(tài)抉擇

自離子污染測(cè)試儀問世以來,對(duì)於用靜態(tài)測(cè)試或動(dòng)態(tài)測(cè)試的問題一直有所爭(zhēng)議,雙方各執(zhí)一詞認(rèn)為自己更優(yōu)於對(duì)方。 為了克服這些問題,摯錦科技離子污染測(cè)試儀讓您能夠靈活地採用自己喜歡的方法。 尤其是對(duì)於OEM廠商,多樣化客戶需要不同的分析方法滿足其需求。 摯錦科技離子污染測(cè)試儀一箭雙雕,花一份投資,坐享雙倍效益。

改良版ROSE

改良版ROSE測(cè)試法引入熱提取技術(shù)。 在特定時(shí)間段內(nèi),將PCB暴露在高溫溶液中,PCB上存在的離子將被吸入溶劑溶液中。 該溶液使用電離譜法測(cè)試裝置進(jìn)行測(cè)試,報(bào)告結(jié)果顯示為每平方英寸PCB上的離子數(shù)。

IPC-TM-650 2.3.28

該離子污染測(cè)試引入與改良版ROSE類似的熱提取技術(shù)。 熱提取后,在離子色譜儀測(cè)試儀中根據(jù)各類標(biāo)準(zhǔn)對(duì)溶液進(jìn)行測(cè)試,測(cè)試結(jié)果顯示為存在的單個(gè)離子種類以及每平方英寸上的每種離子種類的水準(zhǔn)。

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